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系列電灑游離法質譜之研究

為了解決質子質量amu的問題，作者陳威成 這樣論述：

摘要 本論文之研究主要是利用電灑游離法探討四苯系列(TBP)、四苯基系列(TPP)及八乙基四苯基系列(OETPP)化合物之質譜特性，包括二價電荷離子、加成離子系列及金屬的配位基。並探討質譜儀參數、溶劑、酸性環境與形成質譜的影響，並藉由MS/MS、MS3、Neutral loss、Parent ion等質譜技術，說明系列質譜特性。 實驗結果得知TBP及TPP均有二價電荷離子，但僅存在於電灑法中，在丙酮溶劑中有最大的離子強度，加酸對二價電荷離子強弱並無影響，且本身取代基越多，二價電荷離子強度越大。由MS/M

S及MS3掃描可知二價電荷離子斷裂途徑有兩種，以單價離子形式斷裂及以二價離子形式斷裂。 TBP及TPP均有加成離子系列(M+n90+H)+及(M+62+n90+H)+，於電灑法與丙酮溶劑的環境中加成離子系列的離子強度最大，加酸對加成離子強弱並無影響。當取代基越多，(M+n90+H)+系列會越強，但(M+62+n90+H)+系列會越弱。且加成離子系列並非由外在環境形成，由MS/MS及MS3掃描得知二聚物(2M+H)+為兩系列加成離子的來源之一，由Neutral loss及Parent ion掃描，(M+n90+H)+系列亦為(M+62+n90+H)+系列的來源，此外二價離

子斷裂為單價離子的途徑同樣會形成(M+62+n90+H)+系列。 配位基金屬的電灑法分析，亦可得其分子量波峰，由MS/MS掃描可確認為分子離子，配位基強度越強，分子離子的強度就越強。不同系列所得到的質譜特性不同，藉由本研究所得結果，可作為相關研究參考。